Chargement en cours...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Printed Book |
| Langue: | English |
| Publié: |
New York
Springer
2006
|
| Sujets: |
UL
| Cote: |
620.186 FOS |
|---|---|
| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |