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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Springer
2006
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| Schlagworte: |
UL
| Signatur: |
620.186 FOS |
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| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |