Đang tải...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Tác giả chính: | Foster, A. |
|---|---|
| Tác giả khác: | Hofer, W. |
| Định dạng: | Printed Book |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
New York
Springer
2006
|
| Những chủ đề: |
Những quyển sách tương tự
-
Scanning probe microscopy: analytical methods
Bằng: Wiesendanger, Roland; Editor
Được phát hành: (1998) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Bằng: Tsukruk,Vladimir V
Được phát hành: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Bằng: Samori, Paolo; Editor
Được phát hành: (2006) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Được phát hành: (2010) -
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Bằng: Kalinin, Sergei
Được phát hành: (2007)