Đang tải...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Foster, A.
Tác giả khác: Hofer, W.
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: New York Springer 2006
Những chủ đề:

Những quyển sách tương tự