Lataa...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Päätekijä: | Foster, A. |
|---|---|
| Muut tekijät: | Hofer, W. |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York
Springer
2006
|
| Aiheet: |
Samankaltaisia teoksia
-
Scanning probe microscopy: analytical methods
Tekijä: Wiesendanger, Roland; Editor
Julkaistu: (1998) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Tekijä: Tsukruk,Vladimir V
Julkaistu: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Tekijä: Samori, Paolo; Editor
Julkaistu: (2006) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Julkaistu: (2010) -
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Tekijä: Kalinin, Sergei
Julkaistu: (2007)