লোডিং...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| প্রধান লেখক: | Foster, A. |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | Hofer, W. |
| বিন্যাস: | Printed Book |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
New York
Springer
2006
|
| বিষয়গুলি: |
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Scanning probe microscopy: analytical methods
অনুযায়ী: Wiesendanger, Roland; Editor
প্রকাশিত: (1998) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
অনুযায়ী: Tsukruk,Vladimir V
প্রকাশিত: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
অনুযায়ী: Samori, Paolo; Editor
প্রকাশিত: (2006) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
প্রকাশিত: (2010) -
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
অনুযায়ী: Kalinin, Sergei
প্রকাশিত: (2007)