Lanean...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Foster, A.
Beste egile batzuk: Hofer, W.
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York Springer 2006
Gaiak:

Antzeko izenburuak