Načítá se...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New York
Springer
2006
|
| Témata: |
UL
| Signatura: |
620.186 FOS |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |