Chargement en cours...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Détails bibliographiques
Auteur principal: Foster, A.
Autres auteurs: Hofer, W.
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York Springer 2006
Sujets:
LEADER 00700nam a2200253 a 4500
001 adlib96000001
003 ViArRB
005 20151026132233.0
008 960221s1955 dcuabcdjdbkoqu001 0deng d
020 |a 9780387400907 
022
040 |a Adlib 
082 |a 620.186 
245 |a Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents 
250
260 |a New York  |b Springer  |c 2006 
300 |a xiv, 281p 
500 |a   
100 |a Foster, A. 
700 |a Hofer, W. 
942 |c BK  |6 _ 
653 |a Scanning probe microscopy 
999 |c 44417  |d 44417 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 620186_FOS  |7 0  |9 56663  |a UL  |b UL  |d 2010-06-16  |o 620.186 FOS  |p 00057590  |r 2010-06-16  |w 2010-06-16  |y BK