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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

書目詳細資料
主要作者: Foster, A.
其他作者: Hofer, W.
格式: Printed Book
語言:English
出版: New York Springer 2006
主題:
實物特徵
Item Description:
實物描述:xiv, 281p
ISBN:9780387400907