Yüklüyor......

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Foster, A.
Diğer Yazarlar: Hofer, W.
Materyal Türü: Printed Book
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: New York Springer 2006
Konular:
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:
Fiziksel Özellikler:xiv, 281p
ISBN:9780387400907