Загрузка...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York
Springer
2006
|
| Предметы: |
| Примечание: | |
|---|---|
| Объем: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |