Ładuje się......
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York
Springer
2006
|
| Hasła przedmiotowe: |
| Deskrypcja: | |
|---|---|
| Opis fizyczny: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |