Ładuje się......

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Opis bibliograficzny
1. autor: Foster, A.
Kolejni autorzy: Hofer, W.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York Springer 2006
Hasła przedmiotowe:
Opis
Deskrypcja:
Opis fizyczny:xiv, 281p
ISBN:9780387400907