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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

書誌詳細
第一著者: Foster, A.
その他の著者: Hofer, W.
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: New York Springer 2006
主題:
その他の書誌記述
記述事項:
物理的記述:xiv, 281p
ISBN:9780387400907