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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
New York
Springer
2006
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| Soggetti: |
| Descrizione del documento: | |
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| Descrizione fisica: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |