Učitavanje...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Bibliografski detalji
Glavni autor: Foster, A.
Daljnji autori: Hofer, W.
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New York Springer 2006
Teme:
Opis
Opis djela:
Opis:xiv, 281p
ISBN:9780387400907