लोड हो रहा है...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Foster, A.
अन्य लेखक: Hofer, W.
स्वरूप: Printed Book
भाषा:English
प्रकाशित: New York Springer 2006
विषय:
विवरण
वस्तु वर्णन:
भौतिक वर्णन:xiv, 281p
आईएसबीएन:9780387400907