Lataa...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York
Springer
2006
|
| Aiheet: |
| Huomautukset: | |
|---|---|
| Ulkoasu: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |