Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Foster, A.
Weitere Verfasser: Hofer, W.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer 2006
Schlagworte:
Scanning probe microscopy
Beschreibung
Beschreibung:
Beschreibung:xiv, 281p
ISBN:9780387400907

Ähnliche Einträge