Loading...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Foster, A.
Andre forfattere: Hofer, W.
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: New York Springer 2006
Fag:
Beskrivelse
Emne beskrivelse:
Fysisk beskrivelse:xiv, 281p
ISBN:9780387400907