Trích dẫn APA

Foster, A., & Hofer, W. (2006). Scanning probe microscopy: Atomic scale engineering by forces and currents. Springer.

Trích dẫn kiểu Chicago

Foster, A., và W. Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. New York: Springer, 2006.

Trích dẫn MLA

Foster, A., và W. Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer, 2006.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.