Foster, A., & Hofer, W. (2006). Scanning probe microscopy: Atomic scale engineering by forces and currents. Springer.
শিকাগো স্টাইলে সাইটেশনFoster, A., এবং W. Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. New York: Springer, 2006.
এমএলএ সাইটেশনFoster, A., এবং W. Hofer. Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents. Springer, 2006.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.