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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
主要作者: | |
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格式: | Printed Book |
語言: | English |
出版: |
New York
Springer
2007
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主題: |
UL
索引號: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
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復印件 | Live Status Unavailable |
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