Nalaganje...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Glavni avtor: | |
---|---|
Format: | Printed Book |
Jezik: | English |
Izdano: |
New York
Springer
2007
|
Teme: |
UL
Signatura: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Kopija | Zaloga ni dosegljiva |
Kopija | Zaloga ni dosegljiva |