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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
New York
Springer
2007
|
| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |