Ładuje się......
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
1. autor: | |
---|---|
Format: | Printed Book |
Język: | English |
Wydane: |
New York
Springer
2007
|
Hasła przedmiotowe: |
UL
Sygnatura: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |
Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |