Wordt geladen...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Hoofdauteur: | |
---|---|
Formaat: | Printed Book |
Taal: | English |
Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2007
|
Onderwerpen: |
UL
Plaatsingsnummer: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Kopie | Status is onbeschikbaar |
Kopie | Status is onbeschikbaar |