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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
第一著者: | |
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フォーマット: | Printed Book |
言語: | English |
出版事項: |
New York
Springer
2007
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主題: |
UL
請求記号: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
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所蔵 | ステータス情報は利用できません |
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