טוען...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
מחבר ראשי: | |
---|---|
פורמט: | Printed Book |
שפה: | English |
יצא לאור: |
New York
Springer
2007
|
נושאים: |
UL
סימן המיקום: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
עותק | סטטוס עדכני לא זמין |
עותק | סטטוס עדכני לא זמין |