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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Langue: | English |
| Publié: |
New York
Springer
2007
|
| Sujets: |
UL
| Cote: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |
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