Lataa...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Päätekijä: | |
---|---|
Aineistotyyppi: | Printed Book |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
New York
Springer
2007
|
Aiheet: |
UL
Hyllypaikka: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |
Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |