Lanean...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Egile nagusia: | |
---|---|
Formatua: | Printed Book |
Hizkuntza: | English |
Argitaratua: |
New York
Springer
2007
|
Gaiak: |
UL
Sailkapena: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |
Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |