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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
1. Verfasser: | |
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Format: | Printed Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
New York
Springer
2007
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Schlagworte: |
UL
Signatur: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
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Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |
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