Carregant...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Autor principal: | |
---|---|
Format: | Printed Book |
Idioma: | English |
Publicat: |
New York
Springer
2007
|
Matèries: |
UL
Signatura: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
---|---|
Còpia | Comprovació en temps real no disponible |
Còpia | Comprovació en temps real no disponible |