Wordt geladen...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2007
|
| Onderwerpen: |
UL
| Plaatsingsnummer: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |
| Kopie | Status is onbeschikbaar |