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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
New York
Springer
2007
|
| Soggetti: |
UL
| Collocazione: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Copia | Status in tempo reale non disponibile |
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