טוען...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New York
Springer
2007
|
| נושאים: |
UL
| סימן המיקום: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |