Lataa...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York
Springer
2007
|
| Aiheet: |
UL
| Hyllypaikka: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |