Lanean...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
New York
Springer
2007
|
| Gaiak: |
UL
| Sailkapena: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |
| Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |