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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Springer
2007
|
| Schlagworte: |
UL
| Signatur: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |