Ładuje się......
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York
Springer
2007
|
| Hasła przedmiotowe: |
UL
| Sygnatura: |
621.385.833 KAL.1 621.385.833 KAL.2 |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |