Nalaganje...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Jezik: | English |
| Izdano: |
New York
Springer
2007
|
| Teme: |
| Opis knjige/članka: | |
|---|---|
| Fizični opis: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |