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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
New York
Springer
2007
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| Assuntos: |
| Descrição do item: | |
|---|---|
| Descrição Física: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |