Ładuje się......
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York
Springer
2007
|
| Hasła przedmiotowe: |
| Deskrypcja: | |
|---|---|
| Opis fizyczny: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |