Wordt geladen...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2007
|
| Onderwerpen: |
| Beschrijving item: | |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |