טוען...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New York
Springer
2007
|
| נושאים: |
| תאור פריט: | |
|---|---|
| תיאור פיזי: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |