Lataa...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York
Springer
2007
|
| Aiheet: |
| Huomautukset: | |
|---|---|
| Ulkoasu: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |