Carregant...
Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
New York
Springer
2007
|
| Matèries: |
| Descripció de l’ítem: | |
|---|---|
| Descripció física: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |