Three-dimensional X-ray diffraction microscopy: mapping polycrystals and their dynamics

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Poulsen, Henning F.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Berlin Springer 2004
Materias:
X-ray microscopy > X-rays deffraction > Magnetic resonance microscopy

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 535.82:537.531 POU
Copia Estatus de actividad no disponible

Ejemplares similares