CMOS electronics: How it works, how it fails

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Segura, Jaume
Outros Autores: Hawkins, Charles F.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: USA Wiley-Interscience 2004
Assuntos:
Electronic failure analysis > Integrated circuits- failure analysis > Complementary metal oxide semiconductor (CMOS) > CMOS

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Área/Cota: 621.38.004.65 SEG
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