Ładuje się......

Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

Opis bibliograficzny
1. autor: Chakraborty, Kanad
Kolejni autorzy: Mazumder, Pinaki
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New Delhi Pearson Education 2002
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 004.332.3 CHA
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana